Akrometrix

Akrometrix於一九九四年成立，總部設於美國佐治亞州亞特蘭大，全球著名的平整度特性測量與分析技術先鋒。提供全面性測量解決方案的領導者，為全球微電子工業市場提供先進的基板及封裝測量解決方案。Akrometrix的TherMoiré 設備系列能夠提供廣泛的平整度檢測特性技術。Akrometrix是溫度效應測量技術的行業先鋒，在全球二十大半導體生產商中，都採用了Akrometrix的解決方案。