後道- 失效分析
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排序方式
日本 Advantest
高解析度脈衝時域反射計(TDR)/脈衝時域透射計(TDT)系統
實現世界最高的信號品質
非破壞性分析 IC 封裝以及電路版內部配線的故障部位
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高分辨率X射線實時呈像儀
性能特點
- 平台化設計,實現産品客戶訂制化
- 使用開放式X射線管及平板數字探測器,領先業界的清晰圖像提供者
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JetEtch Pro TotalPROTECT
銅線開封機 – 為失效分析方面提供了一系列的創新解決方案。
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美國 Royce
Royce 650萬用推拉力性能測試儀
Royce 650萬 用機械性能測試儀主要用於測試半導體器件和 PCB 板上元器件各種機械性能測試。如引線拉力測試 (..
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Robson Technologies Inc
RTI 的自動曲動追蹤系統是半導體行業的領先供應商。 MultiTrace 的客戶多是芯片制造..
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SONIX™公司是全球超音波掃描檢測儀和無損檢測設備的領先製造商。 自1986年成立以來,SONIX™在無損檢測領域中不斷改革創新,..
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電氣故障分析
ELITE 系統
鎖相紅外線熱成像系統,其增強鎖相熱發射功能用於定位半導體元件中的缺陷。
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