後道- 失效分析

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Advantest - 高分辨率脈衝時域反射計 (TDR) / 透射計 (TDT)

日本 Advantest 高解析度脈衝時域反射計(TDR)/脈衝時域透射計(TDT)系統 實現世界最高的信號品質 非破壞性分析 IC 封裝以及電路版內部配線的故障部位 ..

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COMET YXLON - 高分辨率X射線檢測設備

高分辨率X射線實時呈像儀 性能特點 - 平台化設計,實現産品客戶訂制化 - 使用開放式X射線管及平板數字探測器,領先業界的清晰圖像提供者 ..

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Nisene - 自動化學塑封開封機

      JetEtch Pro TotalPROTECT  銅線開封機 – 為失效分析方面提供了一系列的創新解決方案。 ..

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Royce - 萬用推拉力測試儀

美國 Royce Royce 650萬用推拉力性能測試儀 Royce 650萬 用機械性能測試儀主要用於測試半導體器件和 PCB 板上元器件各種機械性能測試。如引線拉力測試 (..

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RTI - 自動IV特性圖示儀

  Robson Technologies Inc   RTI 的自動曲動追蹤系統是半導體行業的領先供應商。 MultiTrace 的客戶多是芯片制造..

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SONIX - 超聲波掃描顯微鏡

  SONIX™公司是全球超音波掃描檢測儀和無損檢測設備的領先製造商。 自1986年成立以來,SONIX™在無損檢測領域中不斷改革創新,..

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Thermo Fisher - ELITE系統

電氣故障分析 ELITE 系統 鎖相紅外線熱成像系統,其增強鎖相熱發射功能用於定位半導體元件中的缺陷。     ..

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