STAr - 晶圓級/封裝級可靠性測試 (電遷移,經時介質擊穿)


射手座 Sagittarius 系列


參數測試平台

- 適用於機架堆棧式或模塊化儀器設備

- 可選擇集成化的直流 (DC),射頻 (RF),交流 (AC),脈衝 (Pulsed),高功率 (High-power) 參數測試能力

- 獨特的自動 RF 校准系統,與 DC 和 RF 參數提取系統

- 半自動或全自動電光矽光子晶圓級測試解決方案




水星 Mercury 系列


混合信號測試系統
- 高效能自動化測試系統,大幅提升混合信號測試之效率 
- 廣範用於電源管理芯片測試,微機電系統 (MEMS) 和功率器件等領域
- 適用 GaAs 砷化鎵測試
- 適用於視頻/音頻/影像芯片等測試範圍








天蠍座 Scorpio 系列


可靠性測試系統
- 提供高度精准器件壽命驗證的可靠性測試系統
- 具備高產能的優異半導體可靠性工程測試系統,適用於 HCI, BTI, TDDB 與 SILC 晶圓與封裝組件之可靠性測試
- 晶圓級可靠性 (WLR) 測試和封裝級可靠性 (PLR) 測試,最高可達 288 DUTs





金牛座 Taurus TS-8500 系列


半導體開關系統


- 可確保在 1KV, 3KV 和 5KV 電壓下進行低漏電 DC 電流測試
- 用於各種頻率範圍和配置的射頻 RF 開關
- 具備直觀軟件,用戶可配置的設置,廣泛應用的高性能模塊



摩羯座 Capricorn 系列


測試探針台


- 高性能集成的精密工程探針台
- 可自動裝載晶圓片,校准和平面化,提高測試效率;多重視圖顯微鏡,上下移動視點相機
- 半自動或全自動測試探針台選項



STAr - 晶圓級/封裝級可靠性測試 (電遷移,經時介質擊穿)

  • 品 牌 STAr
  • 型 號 STAr - Parametric Test Systems
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