CAMECA
  | 自1960年代首創二次離子質譜儀以來，CAMECA已經開發了一套完整的SIMS產品系列。我們的每款高端儀器可確保為特定應用提供最佳性能。 CAMECA原子探針斷層分析術產品系列包括LEAP 5000系列和 EIKOS APT系列。 CAMECA原子探針是與法國魯昂大學的GPM材料研究小組合作開發。 |
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法國 Cameca - SIMS二次離子質譜儀 . APT原子探針層析技術
自20世紀60年代首創二次離子質譜儀以來，CAMECA已經開發了一套完整的SIMS產品系列。我們的每款高端儀器可確保為特定應用提供最佳性能。 CAM..
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