多功能SIMS工具：高通量和全自動化的基准檢測靈敏度
MS 7f-Auto是獲得成功的IMS xf二次離子質譜儀(SIMS)產品系列的最新型號。旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生產率，已針對玻璃、金屬、陶瓷、矽基，III-V和II-VI族化合物裝置、散裝物料、薄膜等一系列頗具挑戰性的應用進行改良，可充分滿足業界對高效裝置開發和製程控制的要求。
用於解決各種分析問題的關鍵分析功能
IMS 7f-Auto提供了具有高深度解析度和高動態範圍的無與倫比的深度剖析功能。高透射質譜儀與兩種反應性高密度離子源（O2+和Cs+）結合，從而提供高濺射速率和極低的檢出限。獨特的光學設計可實現直接離子顯微鏡和掃描探針成像。
提高自動化和作業效率
IMS 7f-Auto配備重新設計的同軸一次離子槍筒，可以更輕鬆、更快速地進行一次離子束調諧，並優化一次離子束流穩定性。新的自動化程序最大限度地減少了由操作員引起的偏差並提高了易用性。帶有自動裝載/卸載樣品架的電動儲存室透過分析鍊和遠端操作確保高通量。
在高通量下實現高再現性
借助新型電動儲存室和樣品轉移，IMS 7f-Auto能分析鍊式或遠程模式下的多個樣品。測量可完全無人值守和自動化，無與倫比的通量和可再現性。可實現極高可再現性(RSD<0.5％)、極低的檢出限、高通量和高生產率(工具可每天24小時使用，幾乎無需操作員幹預)。
