前道- 測試儀器
Pfeiffer Vacuum - 高效粒子監測
ADPC 302 是一款在半導體領域獨特的用於粒子污染監測的過程內污染管理系統。 高效粒子監測 亞微米粒子會造成可能導致相當大產量損失的缺陷。即使是測量值為 0..
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法國 Cameca - SIMS及APT系列
自1960年代首創二次離子質譜儀以來，CAMECA已經開發了一套完整的SIMS產品系列。我們的每款高端儀器可確保為特定應用提供最佳性能。 CAMEC..
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美國 inTEST - 硬接頭、接口及操控手臂
自一九八一年成立以來，inTEST一直致力於提升集成電路測試的效率和性能。inTEST主要設計、製造並銷售集成電路和芯片測試的整合工具。 ..
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韓國 SEMICS - 自動晶圓探針台
韓國Semics公司自2000年成立以來一直為解決EDS環境中的技術和營運問題提供最佳解決方案。在2000年開發了Wafer Prober後，一直致力於研發..
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