美國Robson Technologies, Inc. (RTI) - 自動IV特性圖示儀·測試插座

 

RTI提供專門的定製解決方案,設計從植入裝置到衛星混合動力的所有設備,從2mm平方的裝置到多芯片的硅上硅混合動力車及其它。 RTI有機會爲您的測試要求提供解決方案,通過創新設計提高成本效益。 RTI的自動曲線追蹤系統是半導體行業的領先供應商。 Multirace的客戶多是芯片製造商,封裝測試代工廠及廣爲人知的私人測試實驗室。

曲線追蹤儀

"Curve tracing"曲線追蹤是用於尋找 I℃ 芯片中被電損壞的引腳的方法。MultiTrace 產品提供了廣泛的一系列解決方案,從使用 powered curve tracing 測試小型芯片的開路/短路到使用 Latch Up testing 測試與更爲複雜的多電路的芯片。

RTI'sMegaTrace 自動直流參數曲線追蹤

MegaTrace由648引腳開始一直到2160引腳,因此有足夠能力測試幾乎任何芯片。機器集成化較高,機臺很容易移動,也可以與其他儀器如顯微鏡,探針臺,及其他遠程測試機器一起使用。

曲線追蹤功能

  • Unpowered 曲線追蹤(連續測試)
  • Supply Current Characterization (ldda 測試)
  • Powered 曲線追蹤
  • 6條總線系統的2Vpp 或 4Vpp 測試

其它測量及測試功能

  • Latch-Up 測試
  • 標準驅動電源:+15V,±1A
  • 高電壓驅動電源:±100V,±100mA
  • 功能性預處理

無源曲線追蹤顯示

 

RTI's MultiTrace 測試系統

專爲臺式使用設計,MultiTrace是一個多功能、緊湊的機型,可支持多達1152引腳。DataTrace強大的系統爲硬件操作,結果分析,校準,維護,測試和調試提供了一套豐富的工具。MultiTrace簡化了通電和不通電的曲線跟蹤過程,並支持各種測試配置,增強了其在多個應用中的實用性。MT Century 現已併入MultiTrace,和以前一樣的夾具、配置,引腳數量

RIl's MultiTrace 自動

DC Parametric 測試系統

DataTrace Pro 軟件追蹤報告

 

測試插座

提供一個100%兼容您的DUT和測試要求的測試插座解決方案。

IC測試插座

支持任何引腳數的BGA、LGA、QFN、QFP、WLCSP以及其他先進封裝類型。

浮動底座

測試插座爲大型陣列及非常小間距器件設計如BGA和WLCSP,確保每個pogo pir精準接觸,避免焊球損傷。

插座蓋

蓋子在DUT和電觸點之間提供壓縮力。每個蓋子樣式都包含對您的測試應用程序很重要的設計功能。

          

美國Robson Technologies, Inc. (RTI) - 自動IV特性圖示儀·測試插座

  • 品 牌 RTI
  • 型 號 RTI - Automated Curve Tracers
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