美國 Bruker - 納米壓痕系統
 

美國Bruker公司是世界頂尖原子力顯微鏡,光學輪廓儀,臺階儀生產廠家。全球顧客包括半導體、化合物半導體、數據儲存,與多重領域的研究機構。Bruker爲了維持對高科技產品成長的領先地位,持續推出新產品,期望爲顧客提供長期的產品優勢,提升生產良率、增加生產力、提高品質及降低使用成本。

Hysitron TI 990 納米壓痕儀

Hysitron TI 990 TriboIndenter 同時具有最大性能、靈活性、可靠性、可用性和速度。這臺行業領先的系統以數十年的 Hysitron 技術創新爲基礎,在納米力學特性測試方面提供更高水平的非凡性能、增強的功能和極致的多功能性。Hysitron TI 990 納米壓痕儀是一臺卓越的納米力學測試儀器,在準確控制、測試帶寬、測試靈活性、適用性、測量可靠性和系統模塊化方面都取得了顯著進步。

 
TI 990 強大的基礎配置,全面瞭解納米級材料行爲
• 定量納米壓痕和微米壓痕、
• 納米劃痕、
• 納米摩擦磨損、
• 高分辨率原位掃描探針顯微鏡(SPM)成像、
• 動態納米壓痕和高速性能成像。

傳統納米壓痕儀器做常規納米壓痕量測耗時~90 秒; 20x20 的矩陣耗時更長達10小時標配的XPM 能將 提高速度到每秒打點6次,比傳統納米壓痕快500倍

TI990 

 

業界領先的噪聲水平,用於接近納米尺度的定量表徵, 並且具有超快的反饋控制,從而對測試過程進行準確的控制。
 

XPM II 高分辨,超高速力學映像
高達每秒12次模量測量

 原位SPM成像確保±10奈米 以內高   精度位移測量

               

Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter
用於掃描電鏡/透射電鏡的納米力學測試系統
 

The Hysitron PI 95 TEM 針對您的 TEM 的定製解決方案

Hysitron PI 95 經過精心設計,可與 JEOL、FEI、日立和蔡司顯微鏡兼容。有了這種儀器,不僅能夠對納米尺度材料的力學反應進行成像,而且可以同時獲取定量機械數據。集成的視頻接口允許載荷-位移曲線和相應的TEM 視頻同步。

 

 

 
Hysitron PI 89 SEM PicoIndenter
掃描電鏡聯用納米壓痕儀

The Hysitron PI 89 SEM 掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡(SEM、FIB/SEM)的卓越成像能力,可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Bruker 領先的電容傳感技術,繼承了引領市場的第一批商業化原位 SEM 納米力學平臺的優良功能。該系統可實現包括納米壓痕、拉伸、微柱壓縮、微球壓縮、懸臂彎曲、斷裂、疲勞、動態測試和力學性能成像等功能。

 

 

 

美國 Bruker - 納米壓痕系統

  • 品 牌 Bruker
  • 型 號 Bruker USA - Nanoindentors
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