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MICRO CONTROL COMPANY是世界領先的老化測試設備製造商。成立於一九七二年的MCC公司為高功率老化測試提供獨立溫控方案和為邏輯/存儲器芯片提供老化測試方案。集成電路老化測試載板的設計以及製作，為不同用戶提供集成電路老化測試整體解決方案。 |
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高功率老化測試系統特性
MCC的老化測試系統具有每個槽的圖案區，多個溫度區和每個DUT的獨立溫度控制。在所有128個獨立的 I/O 通道後面，高達64 M的向量記憶體，滿足不同使用者的低、中和高功率測試要求。
HPB-8 超高功率老化系統特性
HPB-8是MCC最新一代老化測試系統，是目前最強大且節能的型號。提供超過2000W的極高功率能力。專為自動化設計，以減少在老化測試週期中操作昂貴的人工智慧(AI)處理器。
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• 可支援功率高達2000瓦的裝置，每塊老化板的
最大電流可達11456安培(總功率為8000瓦) • 系統可容納16塊老化測試板， 每塊板的測試區域面積為547平方寸 • 每塊老化板配備12個獨立的溫度控制器，並配有液冷插座 • 採用冷卻水系統進行先進的散熱管理 • 16個pattern zone，實現靈活且可擴展的測試 • 高電流調節器：32 @350A，350W max (0.3-1.8V) • 低電流調節器：16 @16A.60W max (0.3-4.0V) • 向量儲存深度：64M (可擴充) • 提供高電流和低電流並聯供電模式 • 可重構掃描深度：最高可達8G (可擴展) • 128個I/O頻道加上128個輸出頻道 |
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HPB-6 高功率老化測試系統
能夠對 1000 瓦裝置進行動態老化測試的高效能老化系統。 HPB-6 高功率老化測試系統適用於邏輯元件和多晶片封裝的生產篩選、工程表徵和壽命測試應用。
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• 單顆最大功率1000W
• 獨立溫控，液體冷卻系統 • 可同時放入16塊老化板 • 每板最大4560安培 • 每塊板塊配備 24 個高功率獨立可編程電源 (250 W，175 A，0.3V 至 1.8V) • 每塊板塊配備 24 個低功率獨立可編程電源 (60 W，15 A，0.3V 至 4.0V) • 128個獨立1/O，128個純輸出通道 • 64M平行向量深度(可選128M) • 8G掃描向量深度 • 最大測試頻率10Mhz (並行)/40Mhz(掃描) •8個可程式高頻率時鐘，頻率高達350Mhz |
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HPB-5C+ 中高功率老化測試系統
HPB-5C+老化測試系統能夠應付散熱差異大、且需要高功率老化的VLSI裝置。 HPB-5C+提供的主動熱控功能可確保在老化測試週期內對每個裝置施加適當的熱應力。
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• 獨立溫控，空氣冷卻系統
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LC-3高性能低成本老化測試系統
LC-3 是一款先進的老化測試系統，透過執行動態老化測試的能力來管理高階需求。 LC-3 老化測試系統設計用於邏輯裝置、混合訊號、類比訊號和儲存裝置的老化測試。
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• 獨立溫控支援每塊BIB可測48顆20瓦產品 |
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工程開發站（EDS）
工程開發站（EDS）為單一老化板提供與全功能老化系統相同的測試功能和環境
• 裝置研究與開發 • 單老化板測試 • 開放設計，方便探針探到測試點 • 設計與除錯測試程序 • 老化板故障排查 • 跑診斷測試程序
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