Bruker - 原子力顯微鏡 (AFM & AFM IR)


美國Bruker


AFM - 原子力顯微鏡 

Dimension FASTSCAN - XR
(世界上掃描速度最快,分辨率最高的原子力顯微鏡)





卓越的儀器檢測性能

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍,自動激光調節和檢測器調節,智能進針,大大縮短了實驗時間。自動測量軟件和高速掃描系統完美結合,大幅提高實驗數據的可信度和可重復性。


無與倫比的測量分辨率

Fastscan精確的力控制模式提高了圖像分辨率的同時,延長了探針的使用壽命。掃描速度20Hz時仍能獲得高質量TappingMode™圖像,掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。低噪音,溫度補償傳感器展現出亞埃級的噪音水平。


                


全面的測試功能,適用於各類AFM樣品

閉環控制的 Icon 和 FastScan 掃描器極大的降低Z方向噪音,使Z方向噪音水平分別低於30pm和40pm,具有超低熱漂移率,可獲得超高分辨真實圖像。FastScan可對不同樣品進行測量,保證掃描過程中從埃級到0.1μm的高精度無失真掃描。


 


       




Innova AFM - 原子力顯微鏡


• 獨有的閉環掃描控制,在開環噪聲水平上提供三維精確測量,  

   輕鬆在90um掃描管上實現原子級分辨率。

• 高分辨率光學系統輔助精確探針定位。

• 快速更換探針,開放式樣品台設計,使用更方便,更容易。

• 擁有所有AFM操作模式,為科學研究提供更高應用靈活性。

• 卓越的信號讀錄與輸入功能便於用戶自己設計研究方法。


   

 



快速掃描納米紅外光譜系統


納米紅外光譜系統 (nanoIR系列) 是美國Anasys儀器公司於2010年開發的基於微區成像材料表征工具。采用獨有專利光熱誘導共振技術(PTIR,也稱AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破光學衍射極限,提高至10nm級別。在得到微區形貌,表面物理性能的基礎上,進一步幫助研究人員全面解析樣品表面納米尺度的化學信息,Anasys開創了納米紅外化學解析的新領域。由於超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學成分成像,被公認為近十年來光譜領域最大的技術進步。該技術榮獲2010年度美國R&D100大獎。2018年Anasys發表了最新一代產品nanoIR3,在廣受歡迎的第二代納米技術紅外光譜系統基礎上實現快速掃描功能,光譜采集速度<1s/光譜;專利輕敲模式納米紅外將空間分辨率提高至10nm以上,並大大提高紅外成像速度,使較軟的生物材料等軟物質的化學成像實現質的飛躍。



快速掃描納米紅外光譜系統 - nanoIR3


特點:

• 真正無模型納米級紅外吸收光譜

• 專利光熱誘導技術實現10nm分辨率

• 快速光譜AFM-IR在數秒內提供高分辨率的  納米紅外光譜

• 豐富的、可解釋的紅外光譜,與FTIR直接相關

• 納米級相關顯微技術與全功能原子力顯微鏡

• “Anasys engineered”易於使用、生產效率高、可靠性高





應用:

• 高分子薄膜、單分子膜

nanoIR3提供了納米級FTIR光譜,直接與FTIR數據庫相關,為各種聚合物提供了真實、無模型的納米級FTIR光譜。

它提供了最高分辨率的化學和材料屬性映射能力,任何系統的分辨率為10納米。



• 半導體失效分析

nanoIR3提供了一個完整的納米FTIR、納米化學成像和材料表征平台。

它結合了兩種互補的納米級紅外技術,AFM-IR和散射SNOM與AFM基材料特性映射。


• 生命科學

由於新的納米級紅外光譜技術,生命科學研究不斷取得新的發現。

nanoIR3提供了無與倫比的納米級FTIR光譜及廣泛的生物材料的化學、結構和機械性能映射。

使用AFM-IR的研究人員在與疾病形成相關的蛋白質二級結構中得出了開創性的結論。


• 力學性能 mapping

洛倫茲接觸共振 (LCR) 產生納米機械接觸共振譜,可用於區分材料的粘彈性性質。

LCR繪制了樣品多組分的分布圖,並允許精確定位探針,以便隨後進行化學和/或熱分析。

LCR使用Anasys Instruments專有的自加熱ThermaLever™探頭,還可以快速測量樣品機械性能中與溫度相關的變化。

這技術為聚合物共混物、多層膜、復合材料和生命科學提供令人振奮的結果。




































Bruker - 原子力顯微鏡 (AFM & AFM IR)

  • 品 牌 Bruker
  • 型 號 Bruker - Innova AFM
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