半導體後道封測制程
半導體前道晶圓制程
光學光電子
ABET IV 測試系統:• 完整 IV 量測曲線追蹤及分析• 自動校正至標准測量條件• 符合 IEC 量測標准• 暗電流及不同溫度量測分析• 電流量測範圍最大可達 10A• 可控溫度及真空吸附測試台..
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